IX MIĘDZYNARODOWA KONFERENCJA NAUKOWA Współrzędnościowa Technika Pomiarowa Bielsko-Biała - Ustroń 14 - 16 kwietnia 2010

Komitet Naukowy

• Eugeniusz Ratajczyk, Politechnika Warszawska – honorowy przewodniczący
• Jerzy Sładek, Politechnika Krakowska – przewodniczący
• Albert Weckenmann, University Erlangen-Nürnberg (Niemcy) – wiceprzewodniczący
• Jan Szadkowski, Akademia Techniczno-Humanistyczna w Bielsku Białej – wiceprzewodniczący
• Jan Malinowski, Akademia Techniczno-Humanistyczna w Bielsku-Białej – sekretarz
• Ali Afjehi-Sadat, Technical University Wien (Austria)
• Liam Blunt, University Huddersfield (Wielka Brytania)
• Marius Bulgaru, Technical University Cluj Napoca (Rumunia)
• Leonardo De Chiffre, Technical University Denmark (Dania)
• Gustavo D. Donatelli, Universidade Federal De Santa Catarina (Brazylia)
• Numan M. Durakbasa, Technical University Wien (Austria)
• Ryoshu Furutani, Tokyo Denki University (Japonia)
• Vytautas Giniotis, Vilnius Gediminas Technical University (Litwa)
• Holger Hage, OKM Jena (Niemcy)
• Orest Ivakhiv, National University Lviv Politechnic (Ukraina)
• Claus P. Keferstein, NTB - Interstate University of Applied Sciences, Buchs (Szwajcaria)
• Thomas Mathia, Ecole Centrale de Lyon (Francja)
• René Mayer, École Polytechnique Montréal (Kanada)
• Herbert P. Osanna, Technical University Wien (Austria)
• Balakrishnan Ramamoorthy, Indian Institute of Technology Madras (Indie)
• Hagen Reißner, Volkswagen AG, Salzgitter (Niemcy)
• Uwe Laudahn, Volkswagen AG, Salzgitter (Niemcy)
• Walter E. Rumpf, Fachhochschule Frankfurt am Main (Niemcy)
• Enrico Savio, Universita Degli Studi Di Padowa (Włochy)
• Frank Härtig, National Bureau of Standard, Braunschweig (Niemcy)
• Klaus Wendt, National Bureau of Standard, Braunschweig (Niemcy)
• Heinrich Schwenke, ETALON AG, Braunschweig (Niemcy)
• Hartwig Weber, Messtechnik Wetzlar GmbH (Niemcy)
• Robert G. Wilhelm, The University of North Carolina at Charlotte (USA)
• Vít Zelený, Czech Metrology Institute, Prague (Czechy)
• Stanisław Adamczak, Politechnika Świętokrzyska, Kielce
• Maria Zybura-Skrabalak, Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania, Kraków
• Jan Chajda, Politechnika Poznańska
• Józef Gawlik, Politechnika Krakowska
• Zbigniew Humienny, Politechnika Warszawska
• Tadeusz Iglantowicz, Politechnika Szczecińska
• Małgorzata Kujawińska, Politechnika Warszawska
• Czesław Łukianowicz, Politechnika Koszalińska
• Marek Nocuń, Zeiss IMT, Warszawa
• Paweł Pawlus, Politechnika Rzeszowska
• Zbigniew Ramotowski, Główny Urząd Miar, Warszawa
• Krzysztof Tubielewicz, Politechnika Częstochowska
• Michał Wieczorowski, Politechnika Poznańska
• Sabina Żebrowska-Łucyk, Politechnika Warszawska

Organizator

• Akademia Techniczno-Humanistyczna, Laboratorium Metrologii

Patronat

• IMEKO International Measurement Confederation (TC14 – Measurement of Geometrical Quantities),
• Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej,
• Sekcja Podstaw Technologii Komitetu Budowy Maszyn Polskiej Akademii Nauk.

Komitet Organizacyjny

• Władysław Jakubiec – przewodniczący,
• Marcin Starczak – sekretarz,
• Wojciech Płowucha,
• Mirosław Wojtyła,
• Piotr Borgieł.

Sprawozdanie

W dniach od 14 do 16 kwietnia 2010 roku odbyła się 9 Międzynarodowa Konferencja Naukowa Coordinate Measuring Technique. Miejscem obrad był hotel Muflon w Ustroniu. W Konferencji wzięło udział 127 uczestników (92 uczestników z Polski i 35 uczestników zagranicznych). Patronatu Konferencji udzieliły: IMEKO International Measurement Confederation (TC14 – Measurement of Geometrical Quantities), Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN oraz Komitet Budowy Maszyn (Sekcja Podstaw Technologii) PAN. Organizatorem Konferencji było Laboratorium Metrologii Akademii Techniczno-Humanistycznej w Bielsku-Białej. Językiem konferencji był angielski. W ostatnim dniu Konferencji niektóre wystąpienia producentów maszyn pomiarowych oraz niektóre postery były w języku polskim.
Z poszczególnych krajów przybyli przedstawiciele następujących ośrodków naukowych, centrów badawczych i szkoleniowych, przedstawiciele przemysłu i producenci przyrządów pomiarowych:

BELGIA:

IBS Precision Engineering BV (1 osoba)

CZECHY:

CTU in Prague (1 osoba)

FRANCJA:

École Centrale de Lyon (1 osoba)

HOLANDIA:

Nikon Metrology NV (2 osoby)

JAPONIA:

Tokyo Denki University (1 osoba),

KANADA:

École Polytechnique de Montreal (1 osoba)

MEKSYK:

Universidad Nacional Autonoma De Mexico (1 osoba)

NIEMCY:

University Erlangen-Nuremberg (4 osoby), Fachhochschule Frankfurt a. M (1 osoba), OGP Messtechnik (1 osoba), Volkswagen AG (1 osoba), Carl Zeiss Oberkochen (1 osoba), Hexagon Metrology Wetzlar (1 osoba), Physikalisch Technische Bundesanstallt (2 osoby), Technical University Braunschweig (2 osoby), University of Applied Sciences Mittweida (1 osoba), WENZEL Group GmbH & Co.KG (1 osoba), Werth Messtechnik GmbH Gießen (1 osoba)

PORTUGALIA:

Technological Center for the Metal Working Industry CATIM (2 osoby)

RUMUNIA:

Technical University Cluj-Napoca (2 osoby)

SERBIA:

University of Belgrade (3 osoby)

SŁOWACJA:

Slovak University of Technology (1 osoba)

WIELKA BRYTANIA:

National Physical Laboratory Teddington (1 osoba)

WŁOCHY:

Avio (1 osoba)

Ponadto reprezentowane były następujące polskie uczelnie, ośrodki badawcze i przemysł:

• Akademia Górniczo-Hutnicza (1 osoba),
• Akademia Techniczno-Humanistyczna w Bielsku-Białej (8 osób),
• Politechnika Białostocka (1 osoba),
• Politechnika Częstochowska (5 osób),
• Politechnika Koszalińska (3 osoby),
• Politechnika Krakowska (10 osób),
• Politechnika Lubelska (1 osoba),
• Politechnika Poznańska (5 osób),
• Politechnika Rzeszowska (3 osoby),
• Politechnika Śląska (1 osoba),
• Politechnika Świętokrzyska (4 osoby),
• Politechnika Warszawska (8 osób),
• Avio Polska (1 osoba),
• Biuro Techniczne Hałat (2 osoby),
• Bulten Polska S.A. (1 osoba),
• Carl Zeiss Sp. z o.o. (3 osoby),
• FARO Technologies Polska (1 osoba),
• Faurecia Fotele Samochodowe (1 osoba),
• Fiat Auto Poland (4 osoby),
• FSO Polmo Łódź (1 osoba),
• Główny Urząd Miar (1 osoba),
• Hexagon Metrology sp. z o.o. (3 osoby),
• Huf Polska Sp. z o.o. (3 osoby),
• Margański & Mysłowski ZL (1 osoba),
• Mikro-Pomiar (2 osoby),
• Mitutoyo Polska Sp. z o.o. (2 osoby),
• Oberon 3D (1 osoba).
• OBR SM Bosmal (1 osoba),
• Pratt & Whitney Kalisz (2 osoby),
• Prima Polska (1 osoba),
• PZWS Kalisz (1 osoba),
• Renishaw Sp. z o.o. (1 osoba),
• Saint-Gobain Sekurit HanGlas Polska (1 osoba),
• Smart Solutions (1 osoba),
• Taylor Hobson Polska (1 osoba),
• TQM Soft (1 osoba),
• TRW Steering Systems Poland (1 osoba),
• Volkswagen Motor Polska (2 osoby),
• Volkswagen Poznań (1 osoba),
• WSK PZL Rzeszów (2 osoby).

Gośćmi honorowymi konferencji byli:

• Prof. ATH dr hab. inż. Ryszard Barcik – Rektor Akademii Techniczno-Humanistycznej w Bielsku-Białej,
• Prof. dr hab. inż. Jacek Stadnicki – Dziekan Wydziału Budowy Maszyn i Informatyki.

Przy okazji konferencji zostały wydane dwie monografie, obie pod redakcją Jerzego Sładka i Władysława Jakubca: pierwsza pt. Advances in Coordinate Metrology zawiera 54 artykuły pogrupowane w 6 rozdziałów tematycznych, a druga p.t. Postępy w metrologii współrzędnościowej zawiera 24 artykuły pogrupowane w 4 rozdziałach. Łączna objętość obu opracowań to 712 stron. W czasie konferencji miało miejsce 118 prezentacji (w tym 81 w formie ustnej i 37 w formie posterowej). Główne tematy konferencji są następujące:

• Coordinate measuring machines
• Traceability and CMM inspection
• Coordinate measurement in practice
• Form, orientation, location and run-out measurements
• Gears measurements
• Geometrical product specification (GPS)
• Unconventional 3D measurements
• Measuring systems and monitoring of machine tools
• Surface roughness 3D measurements.

Referaty

Zdjęcia

Poniżej zamieszczono wybrane zdjęcia z Konferencji